05

JEOL Ltd. (Prezydent Gon-emon Kurihara) informuje, że z dniem 4 stycznia 2016 wprowadził do swojej oferty nowy, innowacyjny model wielozadaniowego transmisyjnego mikroskopu elektronowego JEM-F200 (występujący także pod przydomkiem F2).

W ostatnim czasie 200 kV –owy transmisyjny mikroskop elektronowy z emisją polową zdobywa pozycję pierwszoplanową i podstawową – jako najbardziej uniwersalny, wielofunkcyjny, a przy tym wysokorozdzielczy przyrząd analityczny, który znajduje zastosowanie w niezliczonej ilości aplikacji na wielu polach badawczych.

Wysokie - jak nigdy dotąd – wymagania, stawiane przed takim przyrządem, sprawiają, że firma JEOL ustawicznie dąży do optymalizacji rozwiązań konstrukcyjnych i funkcjonalnych w tej klasie instrumentów TEM, tak by były w pełni gotowe do  sprostania rosnącym potrzebom. Bazuje przy tym na swoim wieloletnim doświadczeniu.

JEM-F200 jest najnowszym przykładem tego rozwoju.


Kluczową rolę w konstrukcji modelu JEM-F200 odgrywa niewątpliwie zastosowanie słynnego już polowego działa elektronowego z zimną katodą (znanego z serii mikroskopów ARM z korekcją aberracji i zbierającego same pozytywne recenzje w bezpośrednim porównaniu ze źródłem Schottky’ego).

Drugą główną cechą instrumentu JEM-F200 jest pełne przygotowanie do integracji (i kontroli w jednym wspólnym i całkowicie nowym interfejsie użytkownika) szerokiej gamy „przystawek” obrazowych i analitycznych oraz dodatkowych technik badawczych, takich jak kamery rejestracji i analizy obrazu (typu CCD, CMOS czy Direct Detection), EDS (o wielkim kącie bryłowym detekcji), EELS, EFTEM, technika tomografii TEM i tomografii EDS, technika holografii TEM, mikroskopia Lorentza, technika dyfrakcji z precesją wiązki, technika Cryo, techniki środowiskowej mikroskopii TEM do badań dynamicznych in-situ, itd.

Przy czym – wobec złożoności kontroli przyrządu rozbudowanego o tak wiele funkcji dodatkowych - szczególna uwaga poświęcona została opracowaniu nowego interfejsu użytkownika, który będzie w każdym przypadku intuicyjnie łatwy w obsłudze.

JEM-F200 jest przyjazny środowisku i już teraz w praktyce realizuje deklaracje podjęte w trakcie ostatniej paryskiej 21-ej Konferencji Klimatycznej o globalnej redukcji emisji CO2.

 

Najważniejsze cechy w skrócie

1.      Zimna katoda (Cold FEG)
JEM-F200 wyposażony został w polowe działo elektronowe nowej generacji („zimna emisja” z technologią Flash & Go), zastosowane po raz pierwszy we flagowej rodzinie mikroskopów JEOL serii ARM. W porównaniu z katodą Schottky’ego („ciepła emisja”), to stabilne źródło elektronów gwarantuje znacznie wyższą jasność oraz niższe rozmycie energetyczne, a tym samym nieporównanie wysoką rozdzielczość energetyczną w zastosowaniach analitycznych i zminimalizowany błąd chromatyczny w zastosowaniach obrazowych.   

2.      Podwójny układ detektorów EDS (Dual EDS)
JEM-F200 może współdziałać jednocześnie z dwoma detektorami promieniowania rentgenowskiego EDS typu SDD.
Ten podwójny układ detektorów EDS o wyjątkowo dużym sumarycznym kącie bryłowym detekcji (1,7 sr) umożliwia szybką analizę próbek wrażliwych na wiązkę elektronową gdy zastosowanie bardzo niskich prądów wiązki okazuje się niezbędne. Czas akwizycji rentgenowskich map (także tych w skali atomowej) nie jest już liczony w minutach, ale sekundach. Podwójny układ detektorów EDS determinuje również możliwość stosowania techniki tomografii EDS.

3.      Nowy wygląd
Firma JEOL podjęła starania, aby nowy instrument prezentował się atrakcyjnie przy zachowaniu wszystkich swoich walorów funkcjonalnych (w tym tych najbardziej innowacyjnych) oraz z zachowaniem udowodnionych i wyróżniających nasze mikroskopy cech najwyższej stabilności mechanicznej, elektrycznej, sprzętowej i programowej.
JEM-F200 oferuje również nowy, intuicyjny interfejs użytkownika, obejmujący nie tylko łatwą kontrolę nad technikami obrazowymi ale także, w równym stopniu, kontrolę nad wszystkimi nowoczesnymi i coraz ważniejszymi technikami analitycznej mikroskopii elektronowej.

4.      Poczwórny układ kondensorowy (Quad-Lens Condenser)
JEM-F200 wyposażony został w nowy układ kondensorowy, który składa się z 4-ech soczewek. W praktyce badawczej układ poczwórnego kondensora zapewnia całkowitą swobodę w doborze zarówno rutynowych jak i najbardziej osobliwych warunków oświetlenia dla technik TEM i STEM z wszelkimi możliwymi detektorami sygnałowymi.

5.      Zaawansowany układ skanowania wiązki elektronowej (Advanced Scan System)
JEM-F200 posiada zupełnie nowy układ skanowania – Advanced Scan System, który oprócz standardowego układu deflektorów skanowania wiązką, znajdujących się w górnej części kolumny ponad próbką, oferuje dodatkowy układ deflektorów skanowania w dolnej części kolumny, tam gdzie tworzony jest obraz. Umożliwia to m.in. analizę i mapowanie STEM-EELS na dużych polach widzenia w małych powiększeniach.

6.      Pikometrowy przesuw (Pico Stage Drive)
JEM-F200 wyposażony został również w innowacyjny mechanizm przesuwu uchwytu z próbką - Pico Stage Drive, umożlwiający przemieszczanie z kontrolowaną dużą lub małą szybkością w zależności od zastosowanego powiększenia oraz minimalnym pikometrowym krokiem z zastosowaniem elementów piezoelektrycznych.

7.      Moduł automatycznego wsuwania i wysuwania uchwytu próbki (SPECPORTER)
Wsuwanie i wysuwanie uchwytu z próbką do kolumny mikroskopu uważane było dotychczas za dosyć trudną operację, szczególnie dla niedoświadczonego użytkownika, z powodu realnego niebezpieczeństwa zapowietrzenia kolumny i związanych z tym poważnych konsekwencji.
JEM-F200 wyposażony został w zupełnie nowy układ ładowania próbki – SPECPORTER – dla ułatwienia wsuwania i wysuwania uchwytów próbek, które to czynności F2 wykonuje w sposób zautomatyzowany.
Niepewność, towarzysząca poprzednio czynności wkładania lub wyjmowania próbki przechodzi do historii.

8.      Przyjazny środowisku
JEM-F200 jest pierwszym instrumentem wyposażonym standardowo w dedykowany układ i schemat działania z  oszczędzaniem energii – tryb ECO. Tryb ECO ma za zadanie utrzymanie systemu mikroskopu w optymalnych warunkach i użycie do tego celu minimalnej możliwej ilości energii (wtedy gdy nie jest normalnie wykorzystywany do badań).
Tryb ECO redukuje zużycie energii do ok. 1/5 w stosunku do normalnego trybu pracy. Funkcję trybu oszczędzania można swobodnie programować czasowo.

Główne parametry

Zdolność rozdzielcza

TEM (punktowa): 0.19 nm
STEM-HAADF: 0.14 nm

Działo elektronowe

Zimna emisja polowa (opcjonalnie: emitter Schottky’ego)

Maks. napięcie przyspieszające

200 kV