28

 

Po raz pierwszy w 1966 roku JEOL zaoferował komercyjnie dostępny skaningowy mikroskop elektronowy model JSM-1. Od tego momentu nasze doświadczenie obejmuje ponad 22,000 instalacji mikroskopów typu SEM globalnie. Przez ostatnie 50 lat nieustannie udoskonalamy możliwości rozdzielcze, zdolność obrazowania coraz szerszej grupy preparatów oraz możliwości analityczne oferowanych przez nas urządzeń. Na uwagę zasługują przede wszystkim główne innowacje wprowadzone w ciągu dziesięcioleci w mikroskopach JEOL tj. : emitery Schottky FEG, technologia detekcji wewnątrz soczewkowej, tryb pracy w niskiej próżni a także technika de-akceleracji wiązki elektronowej... 

Począwszy od mikroskopów klasy FEG oferujących ekstremalne możliwości rozdzielcze 7A i powiększenia 1,000,000X aż do nabiurkowych mikroskopów SEM, JEOL oferuję dedykowane rozwiązania dla szerokiego spektrurum wymagających aplikacji.  

  

                                                                  

1966 - JSM-1                                                                                  2016 - JSM-7800F PRIME

Rozdzielczość: 25nm, Powiększenie: 30'000X                              Rozdzielczość: 0.7nm, Powiększenie: 1'000'000X