08

 

Serdecznie zapraszamy do odwiedzenia stoiska JEOL - Stand JEOL (#37) podczas 16-tego Europejskiego Kongresu Mikroskopii w Lyonie. 

Podczas kongresu zachęcamy do zapoznania się z naszymi najnowszymi mikroskopami elektronowymi: 

 

 

JEM-1400Plus F2 JSM-7800F Prime
JEM-1400plus : Kompaktowy łatwy w obsłudze mikoroskop TEM idealny do badań w dziedzinach: biologii, nauk o materiałach będzie wyposażony w szereg najnowszych kamer cyfrowych.

 

"F2" jest jedynym dostępnym na rynku zaawansowanym analitycznym  mikroskopem S/TEM 200kV TEM pracującym w oparciu o działo Cold Field Emission Gun i podwójny detektor EDS typu SDD. 'F2' powstał w oparciu o zaawansowane innowacyjne rozwiązania JEOL gwarantujące wyjątkową stabilność, łatwość pracy oraz niespotykaną zdolność rozdzielczą 200kV TEM - bez konieczności stosowania kosztownych i komplikujących konstrukcję korektorów. 

 

Najnowocześniejszy FEG-SEM dostępny na rynku nadający się badań bardzo wymagających materiałów. JSM-7800F PRIME to przykład niedoścignionych możliwości obrazowania i badań analitycznych w jednym urządzeniu.
JSM-7200F JSM-IT100
JSM-7200F jest wielofunkcyjnym łatwym w obsłudze mikroskopem FEG SEM oferującym nową jakość badań przy umiarkowanej cenie i wyjątkowo niskich kosztach obsługi.
IT100 to łatwy w obsłudze kompaktowy konwencjonalny mikroskop SEM łączący w sobie doskonałe możliwości obrazowania prepratów z jednoczesną wygodną zintegrowaną spektrometrią EDS.

  

Warsztaty w trakcie przerw lunchowych :

Zapraszamy do uczestnictwa w warsztatach JEOL we wtorek 30-tego sierpnia i czwartek 1-ego września w Salon Tête w godzinach 12h45 do 13h45.

Liczba miejsc jest ograniczona, zapisy odbywają się na stoisku JEOL nr 37

Temat warsztatów:

“Introduction of Cryo Transmission Microscope"    <Dr. Naoki HOSOGI>

"Latest information of JEOL-ARM microscopes for material science Vol.1" <Dr. Eiji OKUNISHI>

"Breakthrough in performance & Maximum usability! Introduction of the newest all-purpose SEM" <Franck CHARLES>