04

Szanowni Państwo,

Serdecznie zapraszamy do wzięcia udziału w konferencji XVI International Conference on Electron Microscopy 10-13 September 2017 | Jachranka • Warszawa • Poland 

i odwiedzenia naszego stoiska gdzie zainstalowany będzie mikroskop pokazowy JEOL JSM-IT500 , w trakcie prezentacji będą mieli Państwo możliwość sprawdzić możliwości naszego najnowszego konwencjonalnego mikroskopu SEM i najnowszych rozwiązań w dziedzinie spektrometrii EDS.

JSM-IT500 InTouchScope™ Scanning Electron Microscope