30

W grudniu 2018 roku JEOL wprowadził do swojej oferty nowy model TEM o nazwie JEM-ACE200F.

Dzięki automatycznemu systemowi transferu wielu próbek, ultra szerokiemu kątowi bryłowemu dla analizy chemicznej (EDS) i dedykowanemu obiektywowi o wysokiej rozdzielczości, mikroskop ten stanowi potężne i wyjątkowo szybkie narzędzie do analizy defektów w materiałach półprzewodnikowych.