27

Transmisyjna mikroskopia elektronowa z rozdzielczością atomową bez pola magnetycznego na próbce

Klasa instrumentu TEM jest definiowana głównie przez jego soczewkę obiektywową, którą możemy uznać za serce mikroskopu. Do tworzenia powiększonych obrazów materii z rozdzielczością atomową obecna technologia wykorzystuje soczewki magnetyczne o dużej mocy. Próbki umieszcza się w silnym polu magnetycznym nabiegunników obiektywu o wartości kilku tesli. Może to prowadzić do znacznych zmian lub nawet zniszczenia magnetycznej i fizycznej struktury materiałów, będących przedmiotem zainteresowania.
JEOL opracował nowy system soczewek magnetycznych, gdzie przestrzeń wokół próbki jest wolna od pola magnetycznego. W połączeniu z korektorem aberracji uzyskujemy w ten sposób obrazowanie z sub-angstroemową rozdzielczością atomową przy resztkowym polu magnetycznym w otoczeniu próbki mniejszym niż 0,2 mT. Ta zdolność umożliwia bezpośrednie obrazowanie struktur magnetycznych (takich np. jak stale krzemowe) z rozdzielczością atomową.
Więcej informacji na ten temat w artykule dostępnym tutaj.