19

Premiera nowego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową JEOL JSM-7610F.

JSM-7610F jest najnowszym przedstawicielem rodziny ultra wysoko rozdzielczych mikroskopów produkcji JEOL; umożliwia badanie jeszcze bardziej wymagających materiałów przy zachowaniu dotychczasowej łatwości obsługi.

Dodatkowo jak każdy SEM FEG produkcji JEOL posiada trzyletnią gwarancję na emiter Schottky. Każdy użytkownik mikroskopów elektronowych naszej produkcji posiada możliwość korzystania z najwyższej jakości wsparcia aplikacyjnego i serwisowego naszego lokalnego i międzynarodowego zespołu „customer service and application support team”.

Nowy JSM-7610F pozwala obrazować topografię preparatu wykorzystując napięcie przyśpieszające jedynie 100 voltów jednocześnie zachowując możliwość akwizycji doskonałych obrazów kompozycyjnych z wykorzystaniem wyjątkowego detektora JEOL Low Angle Backscattered Electron detector (LABE).

    

  Zdjęcia uzyskane przy pomocy detektora LABE: urządzenia półprzewodnikowe – obraz topograficzny

Zdjęcia uzyskane przy pomocy detektora LABE: urządzenia półprzewodnikowe; obraz kompozycyjny

Mikroskop oferuje możliwość zupełnie nowego sposobu badania preparatów dzięki wyjątkowo precyzyjnej kontroli energii elektronów tworzących obraz. Innowacyjny JEOL r-filter umożliwia tylko za pomocą jednego kliknięcia przełączanie pomiędzy obrazem elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych umożliwiając badanie kompozycji i topografii preparatu z wykorzystaniem pojedynczego detektora. 

Doskonałe obrazowanie delikatnych i nieprzewodzących preparatów w wysokiej rozdzielczość i w warunkach wysokiej próżni umożliwia wyjątkowy JEOL Upper Electron Detector współpracujący ze specjalnym trybem JEOL ‘Gentle Beam’. Ta specjalna metoda pracy doskonale poprawia skuteczność obrazowania małych szczegółów powierzchni!

JSM-7610F umożliwia ultra wysokorozdzielcze mikroanalizy rentgenowskie za sprawą opatentowanego rozwiązania JEOL Gun In-Condenser Lens zapewniającego wysoki stabilny prąd wiązki (>200nA @ 15kV) przy jednoczesnym obrazowaniu na najwyższym poziomie

Wszystkie wymienione funkcje czynią z mikroskopu JSM-7610F idealne narzędzie badawcze!

Dostępne są także dedykowane wersje mikroskopu dostosowane do badań półprzewodników lub próbek biologicznych: JSM-7610F Semi lub JSM-7610F Correlative