JEOL
fr-FRit-ITpl-PLcs-CZhu-HU
  • Strona Główna
  • Produkty »

    • Optyka elektronowa

    • » Skaningowa Mikroskopia Elektronowa SEM
    • » Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa TEM
    • » FIB i FIB-SEM
    • » Mikrosonda Augera i Mikrosonda Elektronowa
    • » Zintegrowany EDS dla SEM i TEM

    • Preparatyka

    • » Plazmowe czyszczenie preparatów
    • » Scieniacz jonowy
    • » Polerka jonowa
    • » Ewaporacyjne napylarki próżniowe

    • Półprzewodniki

    • » Litografia wiązką elektronową
    • » Urządzenia rutynowej kontroli jakości SEM
    • » Urządzenia dokładnej kontroli jakości

    • Urządzenia analityczne

    • » Spektrometry Masowe
    • » Spektroskopy Magnetycznego Rezonansu Jądrowego (NMR)
    • » Spektroskopy Elektronowego Rezonansu Spinowego

    • Urządzenia Instalacyjne

    • » Kontrola temperatury pomieszczeń
    • » Układy kompensacji pól magnetycznych
    • » Układy kompensacji drgań

    • Spektrometria Rentgenowska

    • » SXES
    • » Spektrometr XRF
  • Aktualności
  • Serwis / Wsparcie
  • Kontakt
  • Applications
Zaloguj
Aktualności
INFORMACJE WYDARZENIA PUBLIKACJE
25 Latest Articles Current Articles | Archives | Search

Current Articles

Latest RSS Link  Latest 25 Articles

By Category

Category RSS Link  Events (4)
Category RSS Link  Infos (8)
Category RSS Link  Publications (0)

By Author

Author RSS Link  polowek (13)

By Month

Month RSS Link  styczeń 2017 (1)
Month RSS Link  sierpień 2016 (1)
Month RSS Link  kwiecień 2016 (1)
Month RSS Link  luty 2016 (1)
Month RSS Link  listopad 2015 (2)
Month RSS Link  maj 2015 (1)
Month RSS Link  kwiecień 2015 (1)
Month RSS Link  styczeń 2015 (1)
Month RSS Link  listopad 2014 (2)
Month RSS Link  lipiec 2014 (1)
Month RSS Link  luty 2014 (1)

OPTYKA ELEKTRONOWA

  • Skaningowa Mikroskopia Elektronowa SEM
  • Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa TEM
  • FIB i FIB-SEM
  • Mikrosonda Augera i Mikrosonda Elektronowa
  • Zintegrowany EDS dla SEM i TEM

PREPARATYKA

  • Plazmowe czyszczenie preparatów
  • Ścieniacz jonowy
  • Polerka jonowa
  • Ewaporacyjne napylarki próżniowe

PÓŁPRZEWODNIKI

  • Litografia wiązką elektronową
  • Urządzenia rutynowej kontroli jakości SEM
  • Urządzenia dokładnej kontroli jakości

URZĄDZENIA ANALITYCZNE

  • Spektrometry Masowe
  • Spektroskopy Magnetycznego Rezonansu Jądrowego (NMR)
  • Spektroskopy Elektronowego Rezonansu Spinowego

URZĄDZENIA INSTALACYJNE

  • Kontrola temperatury pomieszczeń
  • Układy kompensacji pól magnetycznych
  • Układy kompensacji drgań

SPEKTROMETRIA RENTGENOWSKA

  • SXES
  • Spektrometr XRF (JSX 1000S)
Zasady użytkowania | Zasady zachowania prywatności
Copyright 2017 JEOL