Strona Główna
Produkty »
Optyka elektronowa
»
Skaningowa Mikroskopia Elektronowa SEM
»
Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa TEM
»
FIB i FIB-SEM
»
Mikrosonda Augera i Mikrosonda Elektronowa
»
Zintegrowany EDS dla SEM i TEM
Preparatyka
»
Plazmowe czyszczenie preparatów
»
Scieniacz jonowy
»
Polerka jonowa
»
Ewaporacyjne napylarki próżniowe
Półprzewodniki
»
Litografia wiązką elektronową
»
Urządzenia rutynowej kontroli jakości SEM
»
Urządzenia dokładnej kontroli jakości
Urządzenia analityczne
»
Spektrometry Masowe
»
Spektroskopy Magnetycznego Rezonansu Jądrowego (NMR)
»
Spektroskopy Elektronowego Rezonansu Spinowego
Urządzenia Instalacyjne
»
Kontrola temperatury pomieszczeń
»
Układy kompensacji pól magnetycznych
»
Układy kompensacji drgań
Spektrometria Rentgenowska
»
SXES
»
Spektrometr XRF
Aktualności
Serwis / Wsparcie
Kontakt
Applications
Connexion
Zaloguj
Portal
Rozszerzenia
Rejestracja
*UWAGA:
Członkostwo w tej witrynie jest kontrolowane. Po przesłaniu informacji na temat konta, administrator witryny zostanie o tym powiadomiony, a zgłoszenie zostanie poddane procedurze weryfikacyjnej. Jeśli zgłoszenie uzyska autoryzację, do użytkownika zostanie wysłane powiadomienie o możliwości dostępu do zawartości witryny.Wszystkie pola oznaczone znakiem strzałki (<-) muszą być wypełnione. -
(
Uwaga:
- Rejestracja może zająć kilka sekund. Po kliknięciu przycisku Zarejestruj, proszę poczekać na odpowiedź systemu.)
Nazwa użytkownika:
Proszę wpisać nazwę użytkownika. Musi to być min. 5-znakowa wartość alfanumeryczna
Hasło:
Proszę wpisac hasło
Potwierdzenie hasła:
Proszę powtórnie wpisać takie samo hasło w celu upewnienia się , że nie popełniono błędu
Nazwa wyświetlana:
Proszę wpisać nazwę wyświetlaną
Adres e-mail:
Proszę wpisać poprawny adres e-mail
Imię:
Proszę podać Imię
Nazwisko:
Proszę podać Nazwisko
Kod zabezpieczający:
Proszę wpisać kod zabezpieczający
Proszę wpisać do poniższego pola kod zabezpieczający wyświetlony na obrazku powyżej.
Zarejestruj
Anuluj