FIB i FIB-SEM Multi Beam

Urządzenia JEOL FIB  wykorzystują rozwiązania oparte o pojedynczą wiązkę jonową oraz systemy dwukolumnowe oparte o kolumnę FIB i osobną kolumnę SEM w jednym urządzeniu.

GAMA PRODUKTÓW JEOL

Focused Ion Beam System
Sonde

JEOL JIB-4000 to system przygotowywania preparatów
oraz obserwacji przy pomocy skupionej wiązki jonowej.

SEM-FIB system dwukolumnowy
Double colonne

JEOL JIB-4501 oparty o działo elektronowe LaB6,
oraz system JIB-4601F oparty o działo z emisją polową.