SEM Wolframowy lub LaB6

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM)

Idealne narzędzie do pracy naukowo-badawczej,
doskonale sprawdza się także w przemyśle,
dzięki możliwości pracy w trybie niskiej próżni,
doskonale sprawdzi się w badaniach trudnych preparatów.

 JSM-IT300 Skaningowy Mikroskop Elektronowy z dużą komorą preparatu i trybem niskiej próżni.

 

Po 50 latach konwencjonalnej skaningowej mikroskopii elektronowej nadszedł czas, aby zmienić zasady gry. 

Powyższe zdanie podsumowuje ideę rozwoju nowego skaningowego mikroskopu elektronowego JEOL JSM-IT300HR. Najnowszy SEM JEOL-a łączy zalety konwencjonalnych instrumentów wolframowych z wysokorozdzielczymi urządzeniami wyposażonymi w emitery polowe FEG SEM. Ideą przyświecającą temu projektowi było udostępnienie doskonałego narzędzia obserwacyjno analitycznego szerokiej gamie odbiorców, które nie wymaga od użytkownika poświęcania czasu na dostrajanie aparatu w celu uzyskania doskonałych zdjęć. 
JEOL opracowała nowe automatyczne algorytmy przy pomocą, których w jednej chwili obserwujemy doskonały jasny i kontrastowy obraz próbki zarówno w małym jak i dużym powiększeniu. Komora preparatu umożlwia obserwację dużych próbek a wyjątkowo jasne źródło elektronów gwarantuje akwizyję obrazów z dobrym stosunkiem sygnału do szumu. Dedykowane tryby pracy w warunkach niskiej próżni i nieskiego napięcia umożliwiają pracę z dowolnymi materiałami np. metalami, polimerami, roślinami, ceramiką, proszkami, skałami, nanorurkami półprzewodnikowymi, szkłeł, minerałami, papierem, drewnem, owadami, tworzywami sztucznymi, bakteriami itd.
Innowacyjna kolumna poprawia nie tylko rozdzielczość obrazową ale także rozdzielczość przestrzenną podczas mapowania chemicznego umożliwając uzyskanie pełnej analizy preparatu w kilka sekund!
JSM-IT300HR może być zainstalowany w dowolnym miejscu za sprawą kolumny wykoananej z μmétalu chroniącej instrument przed polami elektromagnetycznymi i nowej architektury urządzenia zapewniającej minimalnej wymagania konserwacyjne.
Powiększenie od 5x do 300,000x razy
Napięcie Przyśpieszające
od 300V do 30kV
Detektory Detektor elektronów wtórnych Everharta Thornleya o szerokim kącie bryłowym
Detektor elektronów wstecznie rozproszonych typu NIP(patent JEOL)
Tryb Niskiej Próżni
10Pa do 650Pa
Stolik Preparatu Eucentryczny w pełni zmotoryzowany
X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=360°
Tilt -10/+90°
Wielkość preparatu Średnica do 200mm
Układ sterujący Do wyboru: PC, laptop, monitor dotykowy ze zintegrowanym PC, Ipad(TM)
Maksymalna rozdzielczość zdjęć 5120×3840
Analizator składu chemicznego EDS Zintegrowany typu SDD (Dotyczy wersji JSM-6610LA)