SEM FEG

Skaningowe Mikroskopy Elektronowe (FEG)

JEOL oferuje szeroki wybór SEM wyposażonych
w działo z emisją polową elektronów (FEG),
idealnie dopasowanych do wymagań użytkowników.

JSM-7610F Skaningowy Mikroskop Elektronowy z emisją polową FEG
JSM-7610F Microscope Electronique à Balayage FEG HRJSM-7610F Microscope Electronique à Balayage FEG HR

Skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową JEOL JSM-7610F łączy w sobie zalety dwóch sprawdzonych technologii:

  • Imersyjnej soczewki obiektywu typu semi-in-lens gwarantującej wysoką rozdzielczość i doskonałe zdolności obrazowania

  • Opatentowany rodzaj działo elektronowe typu Schottky gwarantujący prąd wiązki 400nA (10-krotnie większy niż w konwencjonalnych SEM FEG)

Mikroskop JEOL JSM-7610F umożliwia ultra-wysoko rozdzielcze obrazowanie w największym dostępnym na rynku zakresie prądu wiązki 1pA do ponad 400nA. Za sprawą doskonałej konstrukcji jest to bardzo stabilny instrument idealnie nadający się do ciągłej pracy z największymi powiększeniami. 

JEOL JSM-7610F jest wyposażony w detektory elektronów wtórnych i elektronów wstecznie rozproszonych. Ponadto może być doposażony w  wiele dodatkowych urządzeń takich jak: EDS, WDS, EBSD, Cryo, detektor katodo-luminescencji (CL). Komora mikroskopu umożliwia badanie dużych preparatów do 200 mm średnicy.

Rozdzielczość 1,0 nm (15 kV)
1,3 nm (1 kV)
0,6 nm (30 kV) tryb STEM
Powiększenie
25x do 1.000.000x (dla formatu 120mm x 90mm)
Napięcie Przyśpieszające
100V do 30kV
Prąd wiązki
1 pA do 400nA
Detektory BEI, SEI
BEI, SEI systemu TTLS
LABe (BEI)
Filtr Energii r-filter
Gentle beam System wyhamowywania wiązki elektronów
Śluza próżniowa
Standard
Stolik Preparatu Eucentryczny, zmotoryzowany w 5-ciu osiach