SEM FEG

Skaningowe Mikroskopy Elektronowe (FEG)

JEOL oferuje szeroki wybór SEM wyposażonych
w działo z emisją polową elektronów (FEG),
idealnie dopasowanych do wymagań użytkowników.

JSM-7900F Skaningowy Mikroskop Elektronowy z emisją polową FEG
 

Nowy w ofercie firmy JEOL  ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową – model JSM-7900F to wyjątkowo uniwersalny przyrząd badawczy, łączący najwyższą jakość obrazowania z niezrównaną analizą chemiczną i strukturalną w skali nanometrowej.

Dzięki prostej i w wielu aspektach zautomatyzowanej obsłudze instrument ten doskonale nadaje się do szybkiego gromadzenia danych, także w przypadku najtrudniejszych zastosowań.

Centrum konstrukcji tego premierowego mikroskopu stanowi nowy układ kolumny elektronowej z układem optycznym NeoEngine, który w efekcie znacznie podwyższa precyzję centrowania wiązki, optymalizuje jej średnicę wiązki dla wszystkich stosowanych nastaw oraz ułatwia prowadzenie obserwacji mikroskopowych, niezależnie od poziomu zaawansowania osób obsługujących przyrząd.

Nowy, zaawansowany system nawigacji, Smile Navi, prowadzi użytkownika przez cały proces gromadzenia danych i zapewnia kompleksowe interaktywne wsparcie on line.

Wybrane główne cechy JSM-7900F
  • Rozdzielczość obrazowania: 0.7 nm @ 1kV, 0.6 nm @ 15kV
  • Prąd wiązki > 500nA

  • Detektor elektronów wstecznie rozproszonych BSE o wysokiej czułości i wyjątkowej jakości obrazowania przy niskim napięciu przyspieszającym

  • Detektory wewnątrzsoczewkowe optymalizowane do pracy przy ultra-niskich napięciach przyspieszających

  • Tryb GBSH-S (GENTLEBEAM ™ Super High) umożliwiający obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy bardzo niskich napięciach przyspieszających (do 10V)

  • Nowe działo polowe Schottky Plus i soczewka kondensatora o małej aberracji zapewniające wyższe poziomy jasności.

  • Układ soczewki obiektywu Super Hybrid Lens (SHL), kombinacja soczewki elektrostatycznej      i elektromagnetycznej, wspierający możliwość wysokorozdzielczego obrazowania i analizy różnorodnych materiałów, począwszy od materiałów magnetycznych do materiałów dielektrycznych.

  • Wyjątkowo duży prąd wiązki dostępny także dla niskich napięć przyspieszających.

  • Nowy system wymiany próbek z komorą śluzy próżniowej, umożliwiający wymianę próbek w sposób obsługowo intuicyjny, szybki i  bezpieczny.
Powiększenie
od ×25 do ×1,000,000

Napięcie Przyśpieszające

od 0.01 kV do 30 kV
Rozdzielczość
0.6 nm @ 15 kV, 0.7 nm @ 1.0 kV, 1.0 nm @ 0.5 kV                                                                                                       
(rozdzielczość określana jako minimalna odległość separacji dwóch sąsiadujących cząstek złota na obrazie, a nie automatycznie wyznaczana przez oprogramowanie działające według algorytmu typu „edge criteria”.
Działo elektronowe
In-lens Schottky Plus (patent JEOL)
Prąd wiązki
od kilku pA do > 500 nA
 
Mesoporous silica 7900F
Pollen 7900F
7900F
Nanoporeous 7900F
SnAlO 7900F
Composite 7900F
Graphene 80V 7900F
Ceramique 7900F