SEM Wolframowy lub LaB6

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM)

Idealne narzędzie do pracy naukowo-badawczej,
doskonale sprawdza się także w przemyśle,
dzięki możliwości pracy w trybie niskiej próżni,
doskonale sprawdzi się w badaniach trudnych preparatów.

 JSM-IT300 Skaningowy Mikroskop Elektronowy z dużą komorą preparatu i trybem niskiej próżni.

Rodzina mikroskopów elektronowych JEOL InTouch jest kontynuacją pierwszych skaningowych mikroskopów elektronowych takich jak JEOL JSM-U1 z 1966 roku. Mikroskop JSM-IT300LV jest potężnym narzędziem badawczym znajdującym zastosowanie we wszystkich dziedzinach nauki wymagającym obrazowania elektronowego najwyższej jakości. Również klienci przemysłowi doceniają sprawdzona konstrukcję mikroskopów JEOL za ich bezawaryjną wieloletnią pracę i niskie koszty eksploatacji. Nasz najnowszy model JEOL JSM-300LV za sprawą możliwości pracy w trybie niskiej próżni umożliwia pracę za wieloma rodzajami preparatów w tym także z preparatami nieprzewodzącymi i szybko ładującymi się. Możliwa jest analiza próbek bez wstępnego przygotowania np. preparatów geologicznych, polimerów, materiałów biologicznych itd.

Za sprawą rozdzielczości 3.0nm przy 30kV i 15nm przy 1kV, mikroskop JSM-300LV jest idealnym narzędziem do badań polimerów, kompozytów, materiałów metalicznych, proszków i próbek geologicznych. Rozmiary komory preparatu pozwalają na badania dużych obiektów tak samo jak mechanicznie eucentryczny stolik wytrzymujący duże obciążenia.

JSM-IT300LV pozwala na obserwacje przy znacznie większych powiększeniach niż jakikolwiek mikroskop optyczny, posiadając jednocześnie znacznie większą głębię ostrości obrazu. Skaningowy Mikroskop Elektronowy JEOL pozwala na szczegółowe pomiary, obrazowanie trójwymiarowe 3D oraz akwizycję obrazów stereoskopowych. Dzięki jednoczesnemu obrazowaniu za pomocą kilku detektorów jednocześnie praca jest efektywna a uzyskane rezultaty na najwyższym światowym poziomie.

Mikroskop może być wyposażony w dodatkowe układy analityczne takie jak: spektrometr rentgenowski EDS do ilościowych i jakościowych analiz składu chemicznego(EDS) - wersja JSM-300LA, ultra-dokładny analizator składu chemicznego WDS, detektor katodoluminescencji, kamerę dyfrakcyjną (EBSD), układ litografii i wiele innych akcesoriów.

Praca z mikroskopem SEM jest intuicyjna dzięki graficznemu interfejsowi użytkownika. Istnieje możliwość profilowania dostępu każdego użytkownika, każdy może zapisywać własne schematy pracy z określonymi rodzajami badanych materiałów. Unikalny system nawigowania próbką umożliwia znacznie skrócenie i ułatwienie pracy. Wszystkie podstawowe funkcje mikroskopu mogą być obsługiwane w trybie automatycznym np.: autofokus, korekcja astygmatyzmu, regulacja pracy katody(wycentrowanie, nasycenie), jasność, kontrast.

Powiększenie od 5x do 300,000x razy
Napięcie Przyśpieszające
od 300V do 30kV
Detektory Detektor elektronów wtórnych Everharta Thornleya o szerokim kącie bryłowym
Detektor elektronów wstecznie rozproszonych typu NIP(patent JEOL)
Tryb Niskiej Próżni
10Pa do 650Pa
Stolik Preparatu Eucentryczny w pełni zmotoryzowany
X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=360°
Tilt -10/+90°
Wielkość preparatu Średnica do 200mm
Układ sterujący Do wyboru: PC, laptop, monitor dotykowy ze zintegrowanym PC, Ipad(TM)
Maksymalna rozdzielczość zdjęć 5120×3840
Analizator składu chemicznego EDS Zintegrowany typu SDD (Dotyczy wersji JSM-6610LA)