TEM 200kV

Transmisyjne Mikroskopy Elektronowe

Rodzina solidnych, przyjaznych użytkownikom 200kV Transmisyjnych Mikroskopów Elektronowych charakteryzuje się dużą elastycznością i możliwością dostosowania do najbardziej wymagających technik badawczych.

JEM-2100 LaB6
JEM-2100 LaB6JEM-2100 LaB6

Mikroskop elektronowy JEOL JEM-2100 jest idealnym narzędziem badawczym dla szerokiego grona odbiorców ukierunkowanych na badania w dziedzinach: nowych materiałów, nanoelektroniki i naukach biologicznych.

Oprogramowanie sterujące pracuje w systemie MS Windows™, czyniąc mikroskop JEM-2100 intuicyjnym i łatwym w użytkowaniu potężnym narzędziem badawczym. System sterujący umożliwia pełną i bezproblemową integracje dodatkowych instrumentów badawczych takich jak STEM, HAADF, EDS oraz EELS.

JEOL JEM-2100 posiada wysoce stabilny goniometr, specjalnie zoptymalizowany pod kątem badań tomograficznych. Dedykowane oprogramowanie JEOL TEMography™ pozwala na automatyczną rejestrację serii obrazów w trybie TEM lub STEM. Uzupełnienie powyższych funkcji jest automatyczne trójwymiarowa rekonstrukcja badanych obiektów, moduł wizualizacji 3D umożliwiający pełną swobodę wyboru kąta oglądania. Precyzyjną akwizycję i manipulację preparatu umożliwia piezo-elektryczny układ sterowania położeniem próbki.

JEOL JEM-2100 wyposażony jest w trzy niezależne soczewki kondensora umożliwiające wytworzenie i precyzyjne kontrolowanie zadanej wiązki elektronowej. Dokładna kontrola wiązki umożliwia doskonałe obrazowanie a także zapewnia nieograniczone możliwości analityczne. Opatentowany układ JEOL Alpha Selector™ dodatkowo ułatwia i rozszerza możliwości kontroli wiązki elektronowej. Dzięki dodatkowemu układowi w soczewce obiektywu funkcja mikroskopii Lorentza jest dostępna standardowo.
JEOL JEM-2100 jest doskonałym instrumentem precyzyjnej analizy chemicznej, specjalna przysłona analityczna zapewnia wyniki analizy pozbawione fałszywych artefaktów.


Ultra Wysoko- rozdzielczy
(UHR)
Wysoko-
rozdzielczy
(HR)
Wysoko-pochyłowy
(HT)
Cryo
(CR)
Wysoko-
kontrastowy
(HC)
Rozdzielczość

punktowa
liniowa


0.19nm
0.14 nm


0.23 nm
0.14 nm


0.25 nm
0.14 nm


0.27 nm
0.14 nm


0.31 nm
0.14 nm
Napięcie Przyśpieszające(NP)
Minimalny Krok
80,100,120,160,200 kV, możliwość pracy z niższymi NP niż 80kV
50 V
Stabilność NP
Stabilność OL
2×10–6/min
1×10–6/min
Soczewka Obiektywu (OL)
Ogniskowa
Cs
Cc
Minimalny krok

1,9mm
0.5 mm
1.1 mm
1.0 nm
2.3 mm
1.0 mm
1.4 mm
1.5 nm
2.7 mm
1.4 mm
1.8 mm
1.8 nm
2.8 mm
2.0 mm
2.1 mm
2.0 nm
3.9 mm
3.3 mm
3.0 mm
5.2 nm
CB Diffraction
Convergent angle(2-α)
Acceptance angle
1.5 à 20 mrad lub więcej
±10°
Pochył preparatu ±30° ±35° ±45° ±60°*** ±30°
EDS
Kąt akwizycji

25°


20 °

*   Wymagany opcjonalny uchwyt 36mm
**  Wymagany opcjonalny uchwyt tomograficzny
*** Wymagany opcjonalny układ EDS

Uwaga: Konfiguracja może ulec zmianie.

 
 
Nb2O5 JEM-2100
rein JEM-2100
Carbone JEM-2100
JEM-2100