TEM 300kV

Transmisyjne Mikroskopy Elektronowe

Gama 300 kV Transmisyjnych Mikroskopów Elektronowych z działem FEG, opcjonalnie wyposażonych w zintegrowany filtr Omega.
Dedykowana wersja Cryo dla biologów JEM-3200FSC chłodzona ciekłym helem.

JEM-3100F - 300kV FEG
JEM-3100FJEM-3100F
Mikroskop elektronowy JEOL JEM-3100F jest transmisyjnym mikroskopem elektronowym klasy 300kV osiągającym rozdzielczość 0.17 nm. Mikroskop JEM-3100F doskonale sprawdza się we wszystkich zastosowaniach związanych z nanomateriałami. Instrument jest wyposażony w najnowszego typu przyjazne użytkownikowi oprogramowanie sterujące pozwalające na ergonomiczną i wydajną pracę.

Dzięki zastosowaniu wysokiego napięcia przyśpieszającego 300kV JEOL JEM-3100F może analizować grube preparaty z doskonałą rozdzielczością i szybkością.

Transmisyjny Mikroskop Elektronowy JEOL JEM-3100F doskonale sprawdzi się w szerokim zakresie zastosowań poczynając od badań biologicznych, poprzez nanomateriały aż po badania i kontrolę jakości półprzewodników.

Rozdzielczość TEM 0.17 nm (nabiegunnik UHR)
Rozdzielczość STEM 0.14 nm (nabiegunnik UHR/HR)
Napięcie przyśpieszające
od 100kV do 300 kV
Działo elektronowe
Typu Schottky
Powiększenia od 60x do 1,500,000x
Przesuw preparatu XY: 2 mm; Z: 0.2 mm
Spektrometr EDS
Typu SDD