TEM z korektorem

Transmisyjne Mikroskopy Elektronowe

JEM-ARM200CF Transmisyjny Mikroskop Elektronowy ze zintegrowanym jednym lub dwoma korektorami aberracji sferycznej, wyposażony w działo z termiczną lub zimną emisją polową.

JEM-ARM200F : Atomic Resolution Analitycal Microscope

JEM-ARM200FJEM-3200FSC

Transmisyjny Mikroskop Elektronowy JEOL ARM-200F jest najwyższej klasy urządzeniem badawczym służącym do wysoko rozdzielczego obrazowania i najdokładniejszych analiz.

Aktualnie oferowany JEOL JEM ARM-200F trzeciej generacji posiada innowacyjne rozwiązania zwiększające stabilność całego instrumentu i poprawiające jakość uzyskiwanych zdjęć i wyników badań. Są to przede wszystkim nowoczesna kolumna mikroskopu o jeszcze wyższej stabilności oraz innowacyjny układ zasilania elektrycznego mikroskopu a także jeszcze mocniej zintegrowany korektor aberracji sferycznej. JEOL ARM-200F łączy w sobie niespotykane możliwości badań w wysokiej rozdzielczości w całym zakresie napięć przyśpieszających.

JEOL ARM-200F gwarantuje najlepszą na rynku rozdzielczość w trybie STEM HAADF przy napięciu przyśpieszającym 200kV wynoszącą jedynie 80pm przy użyciu działa termicznego. Działo z zimną katodą to gwarancja rozdzielczości obrazowej wynoszącej 78pm oraz rozdzielczości energetycznej 0,3eV. JEOL ARM-200F z zimną emisją jest jedynym mikroskopem tej klasy mogącym pracować w technologii "Flash & Go" umożliwiającej natychmiastowe kontynuowanie pracy po procedurze wygrzania działa elektronowego.  

Żaden inny TEM dostępny na rynku nie umożliwia tak dokładnych, pozbawionych dystorsji analiz poszczególnych atomów węgla jak JEOL ARM-200F, jest to bezkonkurencyjny instrument do precyzyjnego oznaczania dowolnego składu chemicznego próbki  atom po atomie.

 

  •  “Flash & Go”

  • JEOL ARM-200F jest wyposażony w najnowszego typu zaawansowaną zimną katodę umożliwiającą pracę z najlepszą na rynku minimalną dyspersją energetyczną. Nowoczesny układ próżniowy umożliwia wyjątkową stabilność próżni panującej w mikroskopie(1 x 10-9 Pa) umożliwiając wyjątkowo stabilną emisję elektronów we współpracy z układem "Flash & Go".

  •  W pełni zintegrowany korektor aberracji sferycznych

    Najnowsza generacja JEOL ARM-200F posiada innowacyjny zaawansowany korektor aberracji sferycznych umożliwiający osiąganie doskonałej rozdzielczości. Olbrzymia stabilność urządzenia i doskonałość konstrukcji umożliwia wyjątkowo rzadkie korygowanie ustawień korektora czyniąc tym samym mikroskop jeszcze łatwiejszym i dostępniejszym narzędziem badawczym dla każdego.
     
  • Detektory STEM
     
     Dwa detektory ciemnego pola(DF) pracujące pod różnymi kątami, detektor jasnego pola(BF) oraz detektor elektronów wstecznie rozproszonych(BSE) mogą być jednocześnie zainstalowane czyniąc mikroskop JEOL ARM-200F potężnym narzędziem badawczym. Najnowsze oprogramowanie mikroskopu umożliwia akwizycję sygnału dla wszystkich czterech detektorów umożliwiając ich jednoczesną analizę.  
     
  • Płynna praca w całym zakresie możliwości mikroskopu

    JEOL ARM-200F umożliwia płynną zmianę napięcia przyśpieszającego w całym zakresie napięć przyśpieszających od 30kV do 200kV i równoczesny wybór trybu pracy TEM lub STEM. Zmiana parametrów pracy urządzenia następuje płynnie i bardzo szybko umożliwiając maksymalnie komfortową pracę i wykorzystanie urządzenia dla dowolnego rodzaju badanego materiału. Doskonałość zastosowanych rozwiązań i bardzo przyjazne intuicyjne oprogramowanie umożliwiają pracę już po minimalnym przeszkoleniu.
     
  • Zintegrowany korektor aberracji sferycznej dla obiektywu

    Drugi opcjonalny korektor aberracji sferycznej umożliwiający mikroskopowi JEOL ARM-200F osiągnięcie rozdzielczości w trybie TEM 0,11nm
     
  • Doskonała stabilność
  • Mikroskop elektronowy JEOL JEM ARM-200F jest wzorem do naśladowania również pod kątem oferowanej stabilności. Zwiększona średnica kolumny mikroskopu w połączeniu z innowacyjnymi osłonami termicznymi i magnetycznymi a także układ osłon elektromagnetycznych gwarantują wyjątkową stabilność mikroskopu elektronowego. Układy odpowiedzialne za stabilność instrumentu umożliwiają instalacje w niemalże dowolnym miejscu. Doskonały system elektrycznego zasilania mikroskopu zapewnia stabilność wysokiego napięcia wiązki elektronowej i soczewki obiektywu wynoszący jedynie 0,5ppm pik-pik.

Résolution

Résolution STEM HAADF1)

0.08 nm 2)(à 200kV source Schottky) /0,078nm avec une pointe froide

Résolution en TEM :
Point image

réseau


0.19 nm (at 200kV) 0.11 nm with TEM Cs corrector 3) (à 200kV)

0.10 nm

Grandissement

STEM 200 to 150,000,000x

MET

50 to 2,000,000x

Canon

Schottky / Cathode Froide

Tensions d’accélerations

80 to 200 kV 4)
Platine
Platine

Eucentrique avec déplacement Piezo-électrique

taille de l'échantillon 3 mm dia.
angle d'inclinaison +/-25° avec un porte-objet double tilt pour une piece polaire UHR
Déplacements X/Y: ±1.0 mm
Cs Correctors
Correcteur STEM de Cs Standard
Correcteur TEM de Cs Optionel
Accessories (EDS)/ (EELS)/ CCD camera, etc.

 

1) With HAADF (high-angle annular dark-field) detector
2) Verified using Ge(112) specimen
3) Option
4) Option: 60 kV

Pour de plus amples informations, merci de bien vouloir nous contacter.

 
work in progress
SrTiO3
Pr Ricolleau_CFEG CsTEM_CoPt
Dr DEVAUX IJL Laser polarisé_R 0,082nm
GaAS
Pr Ricolleau CFEG CsTEM Fe2O3
graphene
ABF Fe3O4