EDS dla SEM / TEM

Akcesoria do mikroskopii SEM i TEM

Doskonałe uzupełnienie innowacyjnych i skutecznych instrumentów JEOL.

EDS Centurio 1sr błyskawiczna analiza składu chemicznego
Centurio EDS 1sr pour cartographies élémentaires atomique ultrarapideCenturio EDS 1sr pour cartographies élémentaires atomique ultrarapide

Centurio jest najnowszej generacji detektorem EDS typu SDD (Silicon Drift Detector) opracowanym przez JEOL. Dzięki doskonałej konstrukcji analizuje fotony X pochodzące od próbki z największego dostępnego na rynku kąta bryłowego wynoszącego 1 steradian.

Za sprawą wysoko-wydajnej konstrukcji detektor JEOL Centurio, umożliwia bardzo szybkie i precyzyjne zliczanie fotonów, poprawiając czułość detekcji bez utraty rozdzielczości energetycznej. Wysoka szybkość analizy umożliwia wyjątkowo szybkie zbieranie map rozkładu chemicznego pierwiastków w preparacie przy zachowaniu doskonałego stosunku sygnału do szumu. 

Wysokoenergetyczna, doskonale skupiona wiązka elektronowa w Transmisyjnych Mikroskopach Elektronowych JEOL (STEM korektor Cs) umożliwia pełne wykorzystanie możliwości detektora JEOL Centurio i błyskawiczną akwizycję doskonałych map rozkładu chemicznego w rozdzielczości atomowej!
  • Wysoko wydajne analizy EDS o bardzo wysokiej doskonałej czułości.
  • Możliwość wykonywania map rozkładu chemicznego z rozdzielczością atomową w Transmisyjnych Mikroskopach Elektronowych JEOL o napięciach przyśpieszających 200kV i wyższych.
  • Specjalnie zaprojektowany układ zabezpieczający chroni detektor przed promieniowaniem elektronów wstecznie rozproszonych.
  • Kąt bryłowy 1sr