Strona Główna
Produkty »
Optyka elektronowa
»
Skaningowa Mikroskopia Elektronowa SEM
»
Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa TEM
»
FIB i FIB-SEM
»
Mikrosonda Augera i Mikrosonda Elektronowa
»
Zintegrowany EDS dla SEM i TEM
Preparatyka
»
Plazmowe czyszczenie preparatów
»
Scieniacz jonowy
»
Polerka jonowa
»
Ewaporacyjne napylarki próżniowe
Półprzewodniki
»
Litografia wiązką elektronową
»
Urządzenia rutynowej kontroli jakości SEM
»
Urządzenia dokładnej kontroli jakości
Urządzenia analityczne
»
Spektrometry Masowe
»
Spektroskopy Magnetycznego Rezonansu Jądrowego (NMR)
»
Spektroskopy Elektronowego Rezonansu Spinowego
Urządzenia Instalacyjne
»
Kontrola temperatury pomieszczeń
»
Układy kompensacji pól magnetycznych
»
Układy kompensacji drgań
Spektrometria Rentgenowska
»
SXES
»
Spektrometr XRF
Aktualności
Serwis / Wsparcie
Kontakt
Applications
Zaloguj
Produkty
Optyka elektronowa
Zintegrowany EDS dla SEM i TEM
SEM - EDS SDD
EDS dla SEM / TEM
Akcesoria do mikroskopii SEM i TEM
Doskonałe uzupełnienie innowacyjnych i skutecznych instrumentów JEOL.
SEM - EDS SDD
TEM - EDS SDD
EDS Centurio 1sr
SEM - EDS SDD
OPIS
SPECYFIKACJA
GALERIA
MATERIAŁY
Zintegrowane rozwiązanie analityczne :
- Doskonała czułość
- Rozdzielczość 129 eV
- Zakres analizowanych pierwiastków Be - U
- Możliwość wykonywania map rozkładu chemicznego pierwiastków
- Możliwość symulacji widma
- Korekcja dryftu preparatu