EDS dla SEM / TEM

Akcesoria do mikroskopii SEM i TEM

Doskonałe uzupełnienie innowacyjnych i skutecznych instrumentów JEOL.

SEM - EDS SDD
EDS SDD pour MEBEDS SDD pour MEB
Zintegrowane rozwiązanie analityczne :

- Doskonała czułość
- Rozdzielczość 129 eV
- Zakres analizowanych pierwiastków Be - U
- Możliwość wykonywania map rozkładu chemicznego pierwiastków
- Możliwość symulacji widma
- Korekcja dryftu preparatu