Polerowanie Jonowe - CP

Przygotowanie próbki

Najlepszy sposób na idealnie gładką powierzchnię preparatu.

IB-09010CP Cross Section Polisher
IB-09010CP Cross Section PolisherIB-09010CP Cross Section Polisher
Le Cross Section Polisher (ou CP) est un équipement pour la préparation d'échantillons pour les MEB, les Microsondes de Castaings (EPMA) ou encore les microsondes Auger.
Le CP est un polisseur ionique qui vous permettra de préparer tous les types d'échantillons: qu'ils soient durs, mous, en multicouches de ductilité différentes, ils seront tous très aisément préparés en préservant les structures et sans artefacts de polissage.
Son faisceau d'Argon, couplé à de nombreuses innovations JEOL brevetées polira des sections transverses de tous les types de matériaux sur de grandes surfaces.
Le faisceau ayant un angle d'incidence extrêmement faible, l'argon ne s'implémente pas dans à la surface de l'échantillon mais le poli proprement en le laissant vierge de tout artefact.

Avec le CP, obtenir une surface "miroir" est maintenant est désormais facile et automatique! Et ceci même sur des matériaux difficiles à polir comme des matériaux mous types cuivre, aluminium, polymères ou comme les matériaux durs type céramics ou verre.

Grâce à la caméra intégrée, vous pourrez placer votre échantillon avec une excellente précision pour avoir toujours l'assurance de réussir votre préparation.
Tension d'accélération de l'Argon
2 à 8* kV (* option)
Diamètre du faisceau d'ion
500µm ou plus
Vitesse de polissage
100µm/h (6kV)
300µm/h (8kV)
Taille de l'échantillon

11mm (W) x 10mm (L) x 2mm (T)
et jusqu'à 25mm avec le porte-objet Rotation

Platine axe X ±10mm; axe Y ±3mm
Angle d'ajustement de l'échnatillon
+5°
Angle de tilt pendant le polissage
±30°
Interface Ecran tactile
Gaz Argon
Messure de pression
Gauge Penning
Pompe principale
TMP
Pompe secondaire
Pompe à palettes
Dimensions et Poids 545mm (W) x 550mm (D) x 420mm (H), 64 kg